Con su éxito en nuestras mentes, hemos desarrollado el difractómetro de rayos X Synergy-S XtaLAB para la difracción de rayos X de un solo cristal. Usando una combinación de componentes de vanguardia y software inspirado por el usuario unidos a través de una arquitectura altamente paralela, XtaLAB Synergy- S produce datos rápidos y precisos de manera inteligente. El sistema se basa en la serie PhotonJet-S de fuentes de rayos X de microfocus que opcionalmente incorporan rendijas de divergencia continuamente variables. Estas fuentes de tercera generación
se han diseñado para maximizar los fotones de rayos X en la muestra mediante el uso de una combinación de nuevas ópticas, nuevos tubos de mayor duración y un sistema de alineación mejorado. Las fuentes PhotonJet-S están disponibles en longitudes de onda Cu, Mo o Ag en una configuración de fuente única o doble. El difractómetro de rayos X de cristal único XtaLAB Synergy-S viene con un goniómetro kappa que incorpora velocidades rápidas del motor y un brazo telescópico único de dos theta para proporcionar flexibilidad total para su experimento de difracción. El sistema también está equipado con su elección de detectores de conteo de fotones híbridos HPC, el HyPix-6000HE o la gran cobertura theta HyPix-Arc 150 °.