El espectrómetro de masas TRIFT patentado de HI con Parallel Imaging MS / MS proporciona una sensibilidad superior, un fondo espectral bajo, una capacidad única para obtener imágenes de superficies altamente topográficas, alta precisión de masa y resolución de masa, e identificación inequívoca de picos de alta masa con capacidad de imagen de MS en tándem paralelo. El nanoTOF II se puede configurar con una amplia variedad de opciones para optimizar el rendimiento de materiales orgánicos, materiales inorgánicos o ambos, según los requisitos del cliente.