El nuevo difractómetro de rayos X de sobremesa MiniFlex de sexta generación es un instrumento analítico de difracción de polvo multipropósito que puede determinar: identificación de fase cristalina (phase ID) y cuantificación, porcentaje (%) de cristalinidad, tamaño y deformación del cristalito, refinamiento de los parámetros de la red, refinamiento de Rietveld y estructura molecular. Es ampliamente utilizado en investigación, especialmente en ciencia de materiales y química, así como en la industria para investigación y control de calidad. Es la última incorporación a la serie MiniFlex de analizadores de difracción de rayos X de sobremesa de Rigaku, que comenzó con la introducción del sistema MiniFlex XRD original hace décadas.
El sistema MiniFlex XRD ofrece velocidad y sensibilidad a través de avances tecnológicos innovadores, incluido el detector de matriz de píxeles híbridos 2D (HPAD) HyPix-400 MF junto con una fuente de rayos X de 600 W disponible y un nuevo cambiador automático de muestras de 8 posiciones.